日本nanogray X射線測厚儀SX-1100

更新日期：2024-05-15

訪問量：1498

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100
測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。

在線詢價聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100

測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。以非接觸方式（軟 X 射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基重）。
　通常，為了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進(jìn)行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀上，在運輸過程中只能以遠(yuǎn)低于激光位移計的精度進(jìn)行運輸, 導(dǎo)致結(jié)果. 高精度測量是困難的。
　另一方面，在X射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但樣品的衰減遠(yuǎn)大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進(jìn)行測量。

軟X射線測厚儀的一般特點

無需規(guī)定輻射處理負(fù)責(zé)人或X射線工作負(fù)責(zé)人或設(shè)置控制區(qū)域
（需要通知勞動標(biāo)準(zhǔn)檢查辦公室）
路徑錯誤可以忽略
高元素依賴性

與傳統(tǒng)的軟 X 射線測厚儀相比，我們的軟 X 射線測厚儀的特點

探測器和 X 射線源結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕，甚至可以安裝在狹窄的線路中。
測量范圍廣（材料/厚度）

用途

銅箔、鋁箔、不銹鋼箔
電池電極
陶瓷（薄片、晶片）
玻璃纖維布

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100

物品	規(guī)格
X射線測厚儀SX-1100規(guī)格
姓名	X射線測厚儀SX-1100
測量方法	X射線透射法
檢測方法	閃爍探測器法
測量對象	根據(jù)薄膜、箔等測量對象進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計
測量間距	標(biāo)準(zhǔn)2mm（也可提供更細(xì)間距）
掃描寬度	標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm（也可提供其他寬度）
掃描速度	15-200 毫米/秒（標(biāo)準(zhǔn)）
框架結(jié)構(gòu)	O型及其他各種車架
光斑尺寸	約φ7.5mm（標(biāo)準(zhǔn)）（工作中）
X射線源	70 x 83 毫米 x 250 毫米（標(biāo)準(zhǔn)）
檢測單元	70 x 83 毫米 x 220 毫米（標(biāo)準(zhǔn)）
電源	100V單相1kVA