X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
日本進口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
特征
- X射線探測器采用硅漂移探測器（SDD）
- 配備可編程 XY 平臺
- 大且易于進入的測量室（密閉室型）
主要規格
使用電動載物臺，可以對極薄的薄膜進行自動測量和微量分析。
| 模型 | XDV-SDD |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 6種 |
| 準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm～Φ3mm |
| 車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 超薄膜和多層膜的檢測（電子/半導體行業等）
- 篩選分析（RoHS、玩具、包裝標準有毒物質檢測等）
- NiP成分分析、厚度測量
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