熒光X射線測量儀XDAL ®系列
熒光X射線測量儀XDAL ®系列
日本進口fischer熒光X射線測量儀XDAL ®系列
特征
- X 射線探測器包括配備半導體探測器 (PIN) 的 XDAL 237 和配備硅漂移探測器 (SDD) 的 XDAL 237 SDD。
- 配備帶編程功能的電動XY平臺
- 外殼有一個狹窄的開口（C 槽），可以測量大的板狀樣品。
- 配備 4 種準直器和 3 種初級濾光片的多功能型號
主要規格
從上往下看，是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀。可編程 XY 平臺還允許自動連續測量。
| 模型 | 第 237 章 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 氯 (17) -U (92) |
| X射線探測器 | 半導體探測器（PIN） |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 3種 |
| 準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm-Φ0.6mm |
| 車身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
| 模型 | XDAL 237 固態硬盤 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 3種 |
| 準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm-Φ0.6mm |
| 車身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 從 0.1 µm 開始的薄膜分析
- 電子元件行業和半導體行業中功能膜的測量
- 多層膜測量
- 質量控制中的自動測量
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