熒光X射線測量儀XAN ®系列
熒光X射線測量儀XAN ®系列
日本進口fischer熒光X射線測量儀XAN ®系列
特征
- 由于測量方向是從下方照射的，因此樣品定位很容易。
- 配備硅漂移檢測器，可實現高分辨率和高靈敏度測量（XAN250、XAN252）
- 緊湊的設計
主要規格
從底部看是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀。X 射線探測器有多種組合，例如半導體探測器 (PIN)、硅漂移探測器 (SDD)、可電動更換的濾波器和準直器。
| 模型 | XAN 215 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 氯 (17) -U (92) |
| X射線探測器 | 半導體探測器（PIN） |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 1種固定 |
| 準直器數量/尺寸 | 1型固定/Φ1mm |
| 車身尺寸 | 403 x 588 x 365mm（寬x深x高） |
| 測量室尺寸 | 310 x 320 x 90mm（寬x深x高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
| 模型 | XAN 250 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 6種 |
| 準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.2mm～Φ2mm |
| 車身尺寸 | 403 x 588 x 365mm（寬x深x高） |
| 測量室尺寸 | 310 x 320 x 90mm（寬x深x高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
| 模型 | 第252章 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 6種 |
| 準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.2mm～Φ2mm |
| 車身尺寸 | 403 x 588 x 444mm（寬 x 深 x 高） |
| 測量室尺寸 | 310 x 320 x 174mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
| 其他 | 帶手動 XY 平臺 |
主要應用
- 珠寶和貴金屬的質量控制和采購評估
- 同時測量合金材料分析和鍍層厚度
- 多層鍍膜厚度測量及基材成分分析
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