光譜分析儀AQ6370D
光譜分析儀AQ6370D
具有光學性能，高速測量和功能，從研發到制造均可廣泛使用。它配備了新功能，例如數據記錄和擴展標記功能。
- 波長范圍：600至1700 nm
- 波長精度：±0.01 nm
- 波長分辨率：0.02 nm
- 動態范圍：典型值78dB。
- 電平范圍：+20至-90dBm
- 在0.2秒內高速測量100 nm波長寬度
- 適用于單模到多模光纖
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進一步提高光學性能
兩種型號，標準型和高性能
除了具有高測量性能的標準型號外，我們還有一系列高性能型號，可實現更高的波長精度和動態范圍。
的波長分辨率0.02nm
配備了緊湊而高性能的單色儀。由于其高分辨率，甚至可以分離并精確測量接近的信號。
波長精度高±0.01 nm
- 高性能型號：±0.01 nm（C波段）
- 標準型號：±0.02 nm（C + L波段）
波長范圍 | 標準（-12） | 高性能（-22） |
1520至1580 nm | ±0.02納米 | ±0.01納米 |
寬動態范圍，典型值為78dB。
降低了峰值波長附近的雜散光，以實現高動態范圍。
標準（-12） | 高性能（-22） | |
峰值波長±1.0 nm | 73分貝 | 73 dB（典型值78 dB） |
*波長分辨率為0.05 nm時
動態范圍示例
峰值波長±1.0 nm，分辨率設置為0.05 nm，高動態模式：ON，高性能型號
實現更銳利的濾鏡邊緣
在高性能模型中，±0.2 nm峰值波長內的光譜形狀變得更加清晰，并且動態范圍得到了改善。
標準（-12） | 高性能（-22） | |
峰值波長±0.2 nm | 55分貝 | 58 dB（典型60 dB） |
*波長分辨率0.02 nm
近峰頻譜示例
雜散光抑制比80dB典型值。
不使用高動態模式時新定義的雜散光抑制能力。高雜散光抑制比有助于縮短測量時間。
標準（-12） | 高性能（-22） |
73分貝 | 76dB（典型值80dB） |
*波長分辨率為0.1 nm時
雜散光抑制比示例
高動態模式：OFF，分辨率設置為0.1 nm，高性能型號
寬電平范圍+ 20dBm?-90dBm
它可以在短時間內準確測量從高功率光信號（例如用于光放大器和拉曼放大器的泵浦激光器）到微弱的光信號。可以根據測量應用和測量速度等條件從7個級別中適當設置測量靈敏度。
從1000nm到1300nm的電平靈敏度提高到-85dBm
平滑功能
具有減少疊加在測量頻譜上的噪聲分量的平滑功能。
- 高動態模式
減少了單色器中強光信號引起的雜散光的影響，從而實現了更高的動態范圍。
自由空間結構光輸入
- 支持單模和多模光纖。即使使用多模光纖，插入損耗也很小，并且可以抑制由于信號電平降低而導致的測量速度降低。
- 光學連接器連接出色的可重復性和穩定的測量。不必擔心由于與內部光纖的接觸而損壞光纖連接表面。
APC電平校正功能
帶有校正使用角型光連接器時的插入損耗的功能。
出色的測量通量
在0.2秒內高速測量100 nm波長寬度
高速頻譜測量是通過良好的單色儀技術，高速電路和原始降噪技術實現的。它對于測量陡峭的頻譜（例如DWDM信號和微弱的信號）非常有效。
配備高速遠程接口（以太網，GP-IB）
高分辨率集體測量寬頻帶
數據點的數量為50,001，可以在保持高分辨率的同時立即測量更寬的波長范圍，并且測量變得更加準確和高效。
出色的可操作性
跡線縮放（波形放大/縮小功能）
- 通過單擊并拖動鼠標，任意設置測量波形的波長軸的顯示條件（顯示波長范圍，中心波長等）。
- 立即擴大您想要查看的范圍，并使用鼠標自由移動顯示位置
鼠標和鍵盤操作
- 繼承直觀的面板按鍵布局和菜單結構
- 使用USB鼠標更容易操作
- 可以使用USB鍵盤輸入標簽和文件名
簡便的測量數據管理
USB存儲
兼容大容量USB存儲器和硬盤。
512MB或更多內部存儲器
可存儲20,000多個測量數據。
配有批量保存/回放功能的所有跡線
可以將所有軌跡保存并在一個文件中播放。
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